在智能手機和平板電腦的研發(fā)生產(chǎn)中，EMC測試環(huán)節(jié)往往是拖慢進(jìn)度的“絆腳石”。隨著設(shè)備越來越輕薄、功能越來越復(fù)雜，測試難度也大幅提升。您的團(tuán)隊是否正面臨這些挑戰(zhàn)?

　　測試穩(wěn)定性差

　　設(shè)備內(nèi)部空間緊湊，傳統(tǒng)夾具接觸不良，導(dǎo)致測試結(jié)果波動大，重復(fù)驗證耗時耗力。

　　高頻信號干擾難抑制

　　5G/Wi-Fi 6E/毫米波等高頻信號易受干擾，測試失敗率高，影響認(rèn)證通過率。

　　快速換線需求迫切

　　多型號、小批量試產(chǎn)成為常態(tài)，但治具切換效率低，拖慢整體生產(chǎn)節(jié)奏。

　　我們的創(chuàng)新解決方案

　　? 超精密微間距探針

　　針對高密度PCB設(shè)計，提供0.3mm間距探針方案，確保測試點穩(wěn)定接觸，數(shù)據(jù)可靠性提升40%。

　　? 高頻屏蔽優(yōu)化技術(shù)

　　采用吸波材料+多層屏蔽結(jié)構(gòu)，有效抑制20GHz以上高頻串?dāng)_，助力一次性通過無線通信認(rèn)證(如FCC/CE)。

　　? 模塊化快速換型系統(tǒng)

　　標(biāo)準(zhǔn)化接口+磁吸定位設(shè)計，10秒完成治具切換，適配手機/平板多尺寸機型，試產(chǎn)效率翻倍。

　　案例：某手機品牌采用我們的方案后，EMC測試周期從14天縮短至6天，量產(chǎn)爬坡速度行業(yè)領(lǐng)先!

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